TPD-BX-1大豆表型检测系统是一款利用图象来分析大豆表型相关性状的检测系统，可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标，这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。大豆育种研究中，大豆表型参数和大豆产量、品质、抗逆性等密切相关，进而获取这些参数也显得尤为重要，因此我们推出了大豆表型检测仪。该系统广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的大豆研究

TPZW-J-1作物夹角茎粗测量仪是用于测量小麦、水稻、油菜等作物夹角、茎粗的专业测量仪器，可在离体或活体情况下测量小麦夹角和茎粗数据，拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理。仪器采用压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响。

TPS-BX-1水稻表型检测系统可测量水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、穗长、水稻剑叶夹角、茎粗、水稻株高、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗对应的穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。

玉米表型检测系统不仅可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标，这些高通量表型参数为玉米品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。

TPM-BX-1小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。