叶面积指数测量仪详解

叶面积指数测量仪是用于各种高度植物冠层研究的仪器，可以无损测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射（PAR）等参数。

叶面积指数测量仪广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。