水稻整穗考种测量系统介绍

浙江托普云农科技股份有限公司研制的水稻整穗考种测量系统（典型型号TPDS-X-1 plus），是一套集成均匀透射背光成像、深度学习视觉分割与穗部拓扑解析算法的国产科研级表型分析装备，可在不脱粒、不破坏样本的前提下，对水稻整穗穗部形态学参数与枝梗结构性状进行定量提取，服务于水稻遗传育种、品种区试及穗型构型研究。

一、系统构成与工作原理

硬件组成

均匀透射背光板：超薄LED背光光源装置，提供无阴影透射光照，使稻穗籽粒与背景形成高对比度二值化图像。

成像与终端：兼容高清数码相机或智能移动终端（Android系统），内置自动像素标定标尺，支持任意高度与角度拍摄后的几何畸变校正。

承载与暗箱：磨砂黑底承托面板，抑制环境杂散光反射干扰，确保穗轴与一次/二次枝梗轮廓清晰可辨。

测量原理

将完整水稻穗子平铺于背光板上，移动终端采集整穗俯视图像；软件基于卷积神经网络（CNN）与计算机视觉算法，自动识别穗轴主轴、一次枝梗、二次枝梗及着生籽粒轮廓，通过像素—物理尺寸标定换算实际长度与数量，并按分枝序列对各枝梗独立解算着粒数与长度，实现整穗无损数字化重建。

二、核心分析功能

1、多参数批量分析：一键化自动分析各枝梗穗粒数、一次枝梗长度和对应穗粒数、二次枝梗长度和对应穗粒数、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值等，共测量23个参数指标。

2、枝梗可整体或者分步分析：一次枝梗和二次枝梗可单独分析，也可同时分析。

3、LED 背光光源装置：能够去除种子阴影和杂质，背光清晰

4、自动换成千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，可自动换算出千粒重。

5、数据采集方式：可多点快速取样，数据可批量分析并获取平均值。

6、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。

7、智能修正：动触摸屏幕进行修正，使结果更精准，可达*。

8、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报表。

9、数据导出和共享：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。

10、动态加密：可通过验证码进行加密，一个账号可在多个手机上使用，但不能同时使用。

三、典型应用领域

水稻遗传育种：大批量育种材料穗部性状（穗长、一次/二次枝梗数及长度、着粒密度、粒数）高通量筛选，为理想株型育种与QTL定位提供数字化表型数据。

品种区域试验与DUS测试：为品种比较试验及特异性—一致性—稳定性测试提供可重复量化的穗部性状证据。

产量构成解析：结合单位面积穗数，辅助理论产量估算与高产亲本选配。

栽培与胁迫研究：不同播期、密度、肥力或逆境条件下穗部构型及结实性状变化的定量评估。

四、学术价值评述

该系统以国产无损成像解析方案取代传统人工脱粒数粒与直尺测量，克服了人工考种效率低、主观误差大、穗部枝梗结构性状难以量化的局限，使水稻穗部表型从经验描述升级为具拓扑序列信息的数字化参数，是水稻育种与表型组学研究中具代表性的本土化考种装备。

浙江托普云农科技股份有限公司专业研发生产供应（销售）水稻整穗考种测量系统，厂家直销，欢迎新老用户了解咨询！